振動(dòng)三綜合測(cè)試中心淺談什么是機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)？
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-11-22 來源：互聯(lián)網(wǎng)
根據(jù)振動(dòng)三綜合測(cè)試機(jī)構(gòu)的闡述，振動(dòng)試驗(yàn)主要有四種，即掃頻振動(dòng)試驗(yàn)、振動(dòng)疲勞試驗(yàn)，振動(dòng)噪聲試驗(yàn)和隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。目的是考核微電路在不同振動(dòng)條件下的結(jié)構(gòu)牢固性和電特性的穩(wěn)定性。
1.掃頻振動(dòng)試驗(yàn)使微電路作等幅諧振動(dòng)，其加速度峰值一般分為196m／s：(20e)、490m／s2(50g)和686m/s2(70g)三檔．振動(dòng)頻率從20Hz一2000Hz范圍內(nèi)隨時(shí)間校對(duì)數(shù)變化。振動(dòng)頻率從20Hz~2000Hz再回到20Hz的時(shí)間要求不小于4mm，并且在互相垂直的三個(gè)方向上(其中一個(gè)方向與芯片垂直)各進(jìn)行五次。
2.振動(dòng)疲勞試驗(yàn)也要使微電路作等幅諧振動(dòng)，但是其振動(dòng)頻率是固定的，一般為幾十到幾百赫茲，其加速度峰值一般也分為196m／s2(20g)、490m／s2(50g)和686m／s2(70g)三檔。在互相垂直的三個(gè)方向上(其中一個(gè)方向與芯片垂直)各進(jìn)行一次，每次的時(shí)間大約為32h。
3.振動(dòng)噪聲試驗(yàn)的試驗(yàn)條件與掃頗振動(dòng)試驗(yàn)基本相同。使微電路作等幅諧振動(dòng)，其加速度峰值一般不小于196m／s2(20g)．振動(dòng)頻率從20Hs一2000Hz范圍內(nèi)隨時(shí)間按對(duì)數(shù)變化．振動(dòng)頻率從20Hz一2000Hz再回到20Hz的時(shí)間要求不小于4min，并且在互相垂直的三個(gè)方向上(其中一個(gè)方向與芯片垂直)各進(jìn)行1次。
4.隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)的試驗(yàn)條件是模擬各種現(xiàn)代化現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下可能產(chǎn)生的振動(dòng)。隨機(jī)振動(dòng)的振幅具有高斯分布。加速度譜密度與頻率的關(guān)系是特定的。頻率范圍為幾十到2000Hz。
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