作者:百檢網 時間:2021-11-22 來源:互聯網
電子元器件失效率
電子元器件失效率是考核其壽命或
這種試驗主要用于其壽命能合理地認為是服從指數分布,在本質上是同一設計,建立了可靠性與質量管理的批量產品和連續生產的產品。
就是說,用這種方法對產品的失效率進行驗證時,生產管理應該是嚴格的,生產過程比較穩定,生產批次之間變化較小。
這樣,在累積數據的前提下,可以逐步保證產品有較高的可靠度等級。通常失效率試驗分為定級試驗、維持試驗、升級試驗三種。
1、定級試驗
為首次確定產品的失效率等級而作的試驗,或在某一失效率等級的維持和升級試驗失敗后,對產品重新確定其失效率等級而進行的試驗稱為定級試驗。
2、維持試驗
為證明產品的失效率等級仍不低于定級試驗或升級試驗后所確定的失效率等級而進行的試驗稱為維持試驗。
3、升級試驗
為證明產品的失效率等級比原定的失效率等級更高而進行的試驗稱為升級試驗。
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