可靠性知識：電子元器件失效率試驗的方法
作者：百檢網 時間：2021-11-22 來源：互聯網
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失效率試驗的方法，對電子元器件失效率所進行的可靠性試驗，根據不同的試驗目的可分為兩種方法。
1、方法A——可靠性驗證試驗
如果主要目的是為了確定是否符合某種規定的失效率時，應采用方法A。此時，生產廠的義務是在所要求的置信度下驗證產品是否符合所要求的失效率等級。由于生產廠同意提供某規定的失效率等級，所以，試驗的等級是按產品被鑒定的失效率來確定的。
2、方法B——可靠性測定試驗
如果主要目的是為了對產品的可靠性進行評價昌，應采用方法B。此時，生產廠的義務是按照規定進行試驗，并就試驗結果提出報告。試驗所確定的失效率與同類試驗結果相比較。試驗等級與所報告的失效率無關。
這兩種方法既適用于本質上是連續生產的元器件的試驗，也適用于單批產品的試驗。
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