作者:百檢網 時間:2021-11-23 來源:互聯網
原理
高能的入射電子轟擊物質表面時,被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X
射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射.
儀器技術參數
分辨率: 30 kV,3.0 nm(高真空模式),?背散射電子分辨率30 kV,4.0 nm(高真空模式).?放大倍率:?×5
-?×300,000.?加速電壓0.3 - 30 Kv.
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間,能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬,高度小于5mm.
應用領域
材料,粉體,礦物粒徑大小,表面斷面形貌分析,?填料分散狀態復合材料結構,?材料晶型分析晶粒大
小,材料物相分析。元素定性分析。
適用標準
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 17362-2008?黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
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