作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-12-06 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)
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金屬鍍層厚度采取的測(cè)試方法有:
1、光學(xué)顯微鏡法
2、庫(kù)侖法
3、X射線熒光法(XRF)
其他的金屬鍍層測(cè)試有
1、鍍鋅、鍍鋁鋅量測(cè)試
2、鍍鋁量測(cè)試
3、磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試
4、鋁和鋁合金陽(yáng)*氧化膜厚度(重量法)
5、鋁和鋁合金陽(yáng)*氧化膜封孔質(zhì)量
6、剪切試驗(yàn)
7、杯突試驗(yàn)
鍍層厚度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
1、?光學(xué)顯微鏡法包括:1.GB/T?6462-2005
2.ASTM?B487-07
3.ISO?1463-2003
4.EN?ISO?1463-2004
5.JIS?H8501-1999
2.?庫(kù)侖法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括:1.ASTM?B504-07
2.GB/T?4955-2005
3.ISO?2177-2003
4.DIN?EN?ISO2177-2004
5.JIS?H8501-1999