作者:百檢網 時間:2021-12-06 來源:互聯網
? ? 失效分析是對已失效器件的事后檢查,使用電學測試以及先進的物理、化學和金相分析技術驗證失效現象,確定失效模式,找出失效機理。全面系統的失效分析可以確定失效的原因,對于器件設計、制造工藝、試驗或應用的改進具有指導作用,采取相應的糾正措施消除失效模式或機理產生的原因,從而實現器件以及裝備整體可靠性的提高。
汽車電子元器件失效分析項目:
① 形貌分析技術:體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
② 成分檢測技術:X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜。
③ 電分析技術:I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
④ 開封制樣技術:化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。
⑤ 缺陷定位技術:液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發射顯微像、OBIRCH。
試驗標準:
GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序;
GJB450A 裝備可靠性工作通用要求;
GJB841 故障報告、分析和糾正系統;
GJB536B-2011 電子元器件質量保證大綱;
QJ3065.5-98 元器件失效分析管理要求;
GJB 33A-152 0173 3840 半導體分立器件總規范;
GJB 65B-1999 有可靠性指標的電磁繼電器總規范。
汽車電子元器件失效分析的對象
汽車各種材料和零件(金屬、塑料、陶瓷、玻璃等);
汽車電器電子元件(電阻、電容、電阻網絡、電感、繼電器、電連接器、接觸器等);
半導體分立器件(二*管、三*管、場效應管、可控硅、晶體振蕩器、光電耦合器、二*管堆、IGBT等);
機電類器件(繼電器,機械開關、MEMS);
汽車線纜及接插件(連接器,各類型線纜);
微處理器(51系列單片機,DSP,SOC等);
可編程邏輯器件(GAL、PAL、 ECL 、FPGA、、CPLD、EPLD等);
存儲器(EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等);
AD/DA(DAC7611、MAX525、ADC0832、AD9750等);
通用數字電路(CMOS 4000系列、54系列、80系列);
模擬器件(運算放大器、電壓比較器、跟隨器系列、壓控振蕩器、采樣保持器等);
微波器件(倍頻器、混頻器、接收器、收發器、上變頻器、壓控振蕩器、放大器、功分器、耦合器等);
電源類(線性穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理、LED、PWM控制器、DC/DC等)。
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汽車電子元器件失效分析設備能力
電性測試:LCR阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、ESD測試儀、探針臺、半導體參數分析儀、高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器、頻譜分析儀、數字/模擬集成電路測試機臺、電磁繼電器測試系統。
形貌觀察:體視顯微鏡、金相顯微鏡、X-RAY透射系統、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
制樣設備:機械開封機、化學開封機、反應離子刻蝕機、研磨拋光機。
應力試驗設備:高低溫試驗箱-熱循環試驗、熱沖擊試驗箱-熱沖擊試驗、振動臺-機械振動試驗、恒定加速度試驗臺-恒定加速度試驗、可編程電源-電壓、功率老煉試驗、電子負載-電流、功率老煉、頻率發生器-老煉試驗、浪涌發生器-浪涌試驗、高溫真空箱。
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GRGT是原國家信息產業部軍工電子602計量測試站,通過國家實驗室(CNAS)、國防實驗室(DILAC)和總裝實驗室認可,并通過中國計量認證(CMA),是中國CB實驗室,建立企業計量*高標準80多項,通過CNAS、DILAC認可項目1000多項。
汽車電子元器件失效分析:
李紹政(業務經理) 138-0884-0060(微信同號)
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