作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-12-06 來源:互聯(lián)網(wǎng)
X射線光電子能譜(XPS),基于光電離作用,當(dāng)一束光子輻射到樣品表面時(shí),光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收,使該原子解脫原子核的束縛,以一定的動(dòng)能從原子內(nèi)部發(fā)射出來,變成自由的光電子,而原子本身則變成一個(gè)激發(fā)態(tài)的離子。當(dāng)固定激發(fā)源能量時(shí),其光電子的能量?jī)H與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關(guān),由此根據(jù)光電子的結(jié)合能定性分析物質(zhì)的元素種類。經(jīng)X射線輻照后,從樣品表面射出的光電子的強(qiáng)度與樣品中該原子的濃度呈線性關(guān)系,可以進(jìn)一步進(jìn)行元素的半定量分析。另外,XPS的重要應(yīng)用是對(duì)元素的化學(xué)價(jià)態(tài)進(jìn)行分析。
儀器技術(shù)參數(shù)
離子源:100-4000eV
束斑直徑:1-10mm
濺射速率范圍:0.1-50nm/min
采樣深度:金屬0.5-2nm,無機(jī)物1-3nm,有機(jī)物3-10nm
送樣要求
固體粉末:均勻干燥,粒度小于70um(過200目),質(zhì)量不少于100 mg;
塊體、金屬及薄膜樣,長(zhǎng)寬小于10mm,高度小于5mm。
對(duì)含有揮發(fā)性、油污污染物的樣品許提前去除,**禁止分析帶有磁性的樣品。
應(yīng)用
在化學(xué)、材料科學(xué)及表面科學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。
常見譜圖
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常見適用標(biāo)準(zhǔn)
ISO 16531-2013? 表面化學(xué)分析.深度剖析.原子發(fā)射光譜(AES)和光電子能譜(XPS)中深度剖析用電流或電流密度的離子束校正和相關(guān)測(cè)量方法
專業(yè)、高效、精準(zhǔn)、高性價(jià)比是上海劑拓材料科技有限公司的服務(wù)宗旨。
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