電子測(cè)量?jī)x器做GB/T6587-2012型式試驗(yàn)規(guī)定了電子測(cè)量?jī)x器包括系統(tǒng)和輔助設(shè)備的試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)準(zhǔn)則。
GB/T6587-2012標(biāo)準(zhǔn)適用于各類型的電子測(cè)量?jī)x器，是產(chǎn)品研制、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、驗(yàn)收和檢驗(yàn)的主要技術(shù)依據(jù)，也是制定電子測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和其他技術(shù)文件應(yīng)遵循的原則和基礎(chǔ)。
電子測(cè)量?jī)x器是采用電子技術(shù)測(cè)量電量或非電量的儀器和其他設(shè)備。
電子測(cè)量?jī)x器做GB/T6587-2012型式試驗(yàn)包括的測(cè)試內(nèi)容如下：
1、環(huán)境類試驗(yàn)：
溫度試驗(yàn)：貯存條件、*限條件、工作范圍溫度；
濕熱試驗(yàn)：工作范圍試驗(yàn)、貯存條件試驗(yàn)；
振動(dòng)試驗(yàn)：共振搜索、共振保持、掃頻循環(huán)；
沖擊試驗(yàn)：非工作狀態(tài)下的半正弦波沖擊；
傾斜跌落：工作狀態(tài)下的面跌落。
2、電磁兼容類試驗(yàn)：
靜電放電、射頻輻射抗擾度試驗(yàn)、脈沖群抗擾度試驗(yàn)、浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)、傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)、工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)、電壓暫降和電壓變化抗擾度試驗(yàn)；
可靠性試驗(yàn)：依據(jù)GB5080.7標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)；
電源適應(yīng)性試驗(yàn)：溫態(tài)電壓允許范圍：220x（1±10％)V;頻率范圍：50x（1±5％)Hz；
包裝運(yùn)輸試驗(yàn)：振動(dòng)試驗(yàn)和自由跌落試驗(yàn)。
電子測(cè)量?jī)x器按GB/T6587-2012標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行環(huán)境可靠性及電磁兼容測(cè)試比較繁瑣，測(cè)試前可先確定好溫度點(diǎn)和測(cè)試的組別。
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