作者:百檢網 時間:2022-06-06 來源:互聯網
砷化鎵分析項目和標準 百檢網材料檢測機構可提供砷化鎵分析服務,為CMA資質認證機構,高新技術企業,第三方材料實驗室,針對產品研發、質量控制中遇到的問題,提供成分檢測、產品檢測、產品檢測、儀器檢測等綜合解決方案,儀器齊全,科研團隊強大,7-15個工作日可出具分析報告,支持掃碼查詢真偽,全國上門取樣、寄樣檢測服務,檢測周期短、檢測費用低、檢測數據科學準確!
分析周期:7-15個工作日
分析費用:工程師根據客戶檢測需求以及實驗復雜程度制定實驗方案進行報價。
砷化鎵分析范圍
砷化鎵電池,砷化鎵芯片,砷化鎵太陽能電池,砷化鎵襯底,砷化鎵薄膜,砷化鎵晶體,砷化鎵半導體,砷化鎵外延片等。
分析項目:晶片表面損傷分析,表面清洗及SEM表面分析,含量分析,晶胞結構分析,位錯密度分析,表面缺陷分析,載流子濃度分析,紅外吸收分析等。
百檢網分析報告有哪些作用?可以幫您解決哪些問題?
1、銷售使用。(銷售自己的產品,出具第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產品質量)
2、研發使用。(研發過程中,遇到一些比較棘手的問題,通過檢測報告數據來解決問題,從而縮短研發周期,降低研發成本)
3、改善產品質量。(通過對比檢測數據,發現自身產品問題所在,提高產品質量,降低生產成本)
4、科研論文數據使用。
5、競標,投標使用(百檢網檢測周期比較短,檢測費用低,認可度比較高,特別適合投標使用)
砷化鎵分析標準
GB/T 8757-2006砷化鎵中載流子濃度等離子共振測量方法
GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法
GB/T 8760-2020砷化鎵單晶位錯密度的測試方法
GB/T 11068-2006砷化鎵外延層載流子濃度電容-電壓測量方法
GB/T 11093-2007液封直拉法砷化鎵單晶及切割片
GB/T 11094-2020水平法砷化鎵單晶及切割片
GB/T 17170-2015半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2濃度紅外吸收測試方法
GB/T 18032-2000砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗方法
GB/T 19199-2015半絕緣砷化鎵單晶中碳濃度的紅外吸收測試方法
GB/T 20228-2006砷化鎵單晶
GB/T 20228-2021砷化鎵單晶
GB/T 25075-2010太陽能電池用砷化鎵單晶
GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化鎵襯底
GB/T 35305-2017太陽能電池用砷化鎵單晶拋光片
SJ 3242-1989砷化鎵外延片
SJ 3248-1989重摻砷化鎵和磷化銦載流子濃度的紅外反射測試方法
SJ 3249.3-1989半絕緣砷化鎵中鉻濃度的紅外吸收測試方法
SJ/T 11488-2015半絕緣砷化鎵電阻率、霍爾系數和遷移率測試方法
SJ/T 11490-2015低位錯密度砷化鎵拋光片蝕坑密度的測量方法
SJ/T 11496-2015紅外吸收法測量砷化鎵中硼含量
SJ/T 11497-2015砷化鎵晶片熱穩定性的試驗方法
SJ 20635-1997半絕緣砷化鎵剩余雜質濃度微區試驗方法
SJ 20713-1998砷化鎵用高鈍鎵中銅、錳、鎂、釩、鈦等12種雜質的等離子體光譜分析法
SJ 20714-1998砷化鎵拋光片亞損傷層的X射線雙晶衍射試驗方法
SJ 21536-2018微波功率器件及集成電路用砷化鎵外延片規范
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1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
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4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
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