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二維材料第三方質(zhì)量檢驗機構(gòu) CMA/CNAS資質(zhì)報告 百檢檢測

作者：鑫鑫 時間：2025-04-16 來源：互聯(lián)網(wǎng)

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檢測項目

  • 結(jié)構(gòu)表征
    • 層數(shù)與厚度：確定二維材料的層數(shù)和精確厚度，常用原子力顯微鏡（AFM）進行測量，通過掃描樣品表面形貌，獲取高度信息來確定厚度。
    • 晶體結(jié)構(gòu)：研究二維材料的晶格結(jié)構(gòu)、對稱性和晶向等，X 射線衍射（XRD）可用于分析晶體結(jié)構(gòu)，通過測量 X 射線在晶體中的衍射圖案，確定晶格參數(shù)和晶體取向。
    • 缺陷與雜質(zhì)：檢測材料中的點缺陷、線缺陷、面缺陷以及雜質(zhì)原子等，高分辨率透射電子顯微鏡（HRTEM）可直接觀察到二維材料的原子結(jié)構(gòu)，幫助識別缺陷和雜質(zhì)。
  • 成分分析
    • 元素組成：確定二維材料的組成元素及其比例，能量色散 X 射線光譜（EDS）可在電子顯微鏡下對樣品進行元素分析，通過測量 X 射線的能量和強度來確定元素種類和相對含量。
    • 化學(xué)鍵合：分析原子之間的化學(xué)鍵類型和鍵合狀態(tài)，X 射線光電子能譜（XPS）是常用的方法，通過測量光電子的能量來確定元素的化學(xué)狀態(tài)和化學(xué)鍵合情況。
  • 電學(xué)性能
    • 載流子濃度與遷移率：這是衡量二維材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)，可通過霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)來測量，在磁場和電場作用下，測量材料中的霍爾電壓和電流，從而計算出載流子濃度和遷移率。
    • 電阻率與電導(dǎo)率：反映材料的導(dǎo)電能力，四探針法是常用的測量方法，通過在樣品上施加電流和測量電壓，計算出材料的電阻率和電導(dǎo)率。
  • 光學(xué)性能
    • 吸收與發(fā)射光譜：研究二維材料對不同波長光的吸收和發(fā)射特性，紫外 - 可見 - 近紅外光譜儀可用于測量材料的吸收光譜，而熒光光譜儀可用于測量發(fā)射光譜。
    • 光學(xué)對比度：對于二維材料在光學(xué)器件中的應(yīng)用，光學(xué)對比度是一個重要參數(shù)，可通過光學(xué)顯微鏡或?qū)ｉT的光學(xué)測量設(shè)備來測量。
  • 力學(xué)性能
    • 彈性模量與硬度：了解二維材料的力學(xué)強度和剛性，納米壓痕技術(shù)可用于測量材料的彈性模量和硬度，通過將微小的壓頭壓入樣品表面，測量壓痕的深度和力的關(guān)系來獲取力學(xué)性能參數(shù)。
    • 拉伸強度與韌性：對于二維材料的實際應(yīng)用，拉伸強度和韌性是關(guān)鍵性能指標，可通過微機電系統(tǒng)（MEMS）拉伸測試平臺等設(shè)備對二維材料進行拉伸測試，測量材料在拉伸過程中的應(yīng)力 - 應(yīng)變關(guān)系，從而得到拉伸強度和韌性等參數(shù)。

檢測標準

  • ISO/TS 80004 - 13:2017：納米技術(shù) - 詞匯 - 第 13 部分：二維材料，該標準對二維材料的相關(guān)術(shù)語和定義進行了規(guī)范。
  • GB/T 35418 - 2017：石墨烯材料的術(shù)語、定義及代號，規(guī)定了石墨烯材料的術(shù)語、定義及代號，為二維材料的相關(guān)研究和應(yīng)用提供了統(tǒng)一的術(shù)語標準。
  • GB/T 38594 - 2020：二維過渡金屬碳化物和氮化物（MXenes）粉體材料 化學(xué)分析方法，規(guī)定了二維過渡金屬碳化物和氮化物（MXenes）粉體材料中碳、氮、金屬元素等的化學(xué)分析方法。
  • ASTM D7928 - 14：Standard Test Method for Measuring the Thickness of Graphene and Other Two - Dimensional Materials by Atomic Force Microscopy，該標準規(guī)定了使用原子力顯微鏡測量石墨烯和其他二維材料厚度的測試方法。
  • ASTM WK45015：Standard Guide for Raman Spectroscopy of Graphene and Graphene - Based Materials，該指南提供了石墨烯和基于石墨烯材料的拉曼光譜分析的標準方法和相關(guān)指導(dǎo)。
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