標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 27788-2020
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2020-06-02; 實(shí)施于2021-04-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2020-06-02
實(shí)施日期：2021-04-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：37.020
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：37.020
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所;中國(guó)人民解放軍海軍軍醫(yī)大學(xué);中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 27788-2011
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 16700:2016。
采標(biāo)中文名稱:微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 27788-2011 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則; 20190855-T-469 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則; 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則; 20075698-T-469 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則; DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評(píng)價(jià)方法; DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法; GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法; GB/T 16594-1996 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法; 20111086-T-604 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法; GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法