標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 38240-2019
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：無損檢測(cè)儀器 射線數(shù)字探測(cè)器陣列制造特征
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Non-destructive testing instruments—Standard practice for manufacturing characterization of digital detector arrays
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2019-10-18; 實(shí)施于2020-05-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2019-10-18
實(shí)施日期：2020-05-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.100
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.100
歸口單位：全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)
起草單位：中國工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所;山東省特種設(shè)備研究院濟(jì)寧分院;上海奕瑞光電子科技有限公司
相近標(biāo)準(zhǔn)：20130860-T-604 無損檢測(cè)儀器 射線數(shù)字探測(cè)器陣列制造特征; 20121784-T-604 無損檢測(cè)儀器 X射線工業(yè)CT系統(tǒng)面陣探測(cè)器特性與驗(yàn)證; JB/T 11279-2012 無損檢測(cè)儀器 線陣列渦流探頭; JB/T 11780-2014 無損檢測(cè)儀器 陣列渦流檢測(cè)儀性能和檢驗(yàn); JB/T 13150-2017 無損檢測(cè)儀器 渦流檢測(cè)儀用變陣列探頭; 20111128-Q-604 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)X射線數(shù)字成像系統(tǒng); JB/T 11610-2013 無損檢測(cè)儀器 數(shù)字超聲檢測(cè)儀技術(shù)條件; JB/T 12454-2015 無損檢測(cè)儀器 聲掃頻檢測(cè)儀; JB/T 12455-2015 無損檢測(cè)儀器 渦流掃頻檢測(cè)儀; JB/T 11609-2013 無損檢測(cè)儀器 聲振檢測(cè)儀