標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.7-2018
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing—Part 2：Test methods—Test Ec：Rough handling shocks，primarily for equipment—type specimens
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2018-12-28; 實(shí)施于2019-07-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2018-12-28
實(shí)施日期：2019-07-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.020
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.020
歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：廣州大學(xué);上海市質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)技術(shù)研究院;電信科學(xué)技術(shù)**研究所;工業(yè)和信息化部電子第五研究所;北京航空航天大學(xué);北京中元環(huán)試機(jī)電設(shè)備技術(shù)有限公司
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.7-1995,GB/T 2423.8-1995
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-31: 2008。
采標(biāo)中文名稱:環(huán)境試驗(yàn) 第2-31部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Ec：粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20101332-T-469 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）; GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品); GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn); 20101322-T-469 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn); GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn); JB/T 9444.8-1999 復(fù)印機(jī)械基本環(huán)境試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec：自由跌落試驗(yàn); GB/T 2423.5-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊; 20101330-T-469 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊; 20010201-T-339 環(huán)境測(cè)試 用手造成的標(biāo)記和印刷文字的磨蝕; 20173670-T-418 海洋儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第11部分：沖擊與碰撞試驗(yàn)