標準號：GB/T 4937.14-2018
中文標準名稱：半導體器件 機械和氣候試驗方法 第14部分：引出端強度（引線牢固性）
英文標準名稱：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminations（lead integrity）
標準狀態：現行,發布于2018-09-17; 實施于2019-01-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2018-09-17
實施日期：2019-01-01
中國標準分類號：31.080.01
國際標準分類號：31.080.01
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
執行單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：中國電子科技集團公司第十三研究所;無錫必創傳感科技有限公司;北京大學微電子研究院
采標情況：本標準等同采用IEC國際標準：IEC 60749-14:2003。
采標中文名稱:半導體器件 機械和氣候試驗方法 第14部分：引線牢固性（引線牢固性）。
相近標準：20132216-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第14部分：引出端強度（引線牢固性）; GB/T 4937-1995 半導體器件機械和氣候試驗方法; 20201539-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第38部分：半導體器件的軟錯誤試驗方法; 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第38部分：半導體器件的軟錯誤試驗方法; GB/T 4937.22-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第22部分：鍵合強度; 20141816-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第22部分：鍵合強度; 20201540-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第10部分：機械沖擊; 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第10部分：機械沖擊; GB/T 4937.21-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第21部分：可焊性; GB/T 4937.1-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分: 總則