標準號:GB/T 4937.13-2018
中文標準名稱:半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分:鹽霧
英文標準名稱:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
標準狀態:現行,發布于2018-09-17; 實施于2019-01-01; 廢止
標準類型:國家標準
標準性質:推薦性
發布日期:2018-09-17
實施日期:2019-01-01
中國標準分類號:31.080.01
國際標準分類號:31.080.01
歸口單位:全國半導體器件標準化技術委員會
執行單位:全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門:工業和信息化部(電子)
起草單位:中國電子科技集團公司第十三研究所;無錫必創傳感科技有限公司;北京大學微電子研究院
采標情況:本標準等同采用IEC國際標準:IEC 60749-13:2002。
采標中文名稱:半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分:鹽霧。
相近標準:GB/T 4937-1995 半導體器件機械和氣候試驗方法; 20132215-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分:鹽霧; 20201539-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第38部分:半導體器件的軟錯誤試驗方法; 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第38部分:半導體器件的軟錯誤試驗方法; 20201540-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第10部分:機械沖擊; 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第10部分:機械沖擊; GB/T 4937.21-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第21部分:可焊性; GB/T 4937.1-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分: 總則; 20030194-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分: 總則; 20193134-T-339 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第8部分:密封
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