標準號：GB/T 36655-2018
中文標準名稱：電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法
英文標準名稱：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
標準狀態：現行,發布于2018-09-17; 實施于2019-01-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2018-09-17
實施日期：2019-01-01
中國標準分類號：31.030
國際標準分類號：31.030
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
執行單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：國家硅材料深加工產品質量監督檢驗中心;漢高華威電子有限公司;江蘇聯瑞新材料股份有限公司
相近標準：20141079-T-469 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法; GB/T 32661-2016 球形二氧化硅微粉; 20082071-T-609 球形二氧化硅微粉; GB/T 37406-2019 電子封裝用球形二氧化硅微粉球形度的檢測方法 顆粒動態光電投影法; 20141080-T-469 電子封裝用球形二氧化硅微粉球形度的檢測方法 顆粒動態光電投影法; 20067338-T-605 電爐回收二氧化硅微粉; GB/T 21236-2007 電爐回收二氧化硅微粉; SJ/T 10675-2002 電子及電器工業用二氧化硅微粉; YB/T 115-1997 不定形耐火材料用二氧化硅微粉; GB/T 20020-2013 氣相二氧化硅