GB/T 36479-2018 集成電路 焊柱陣列試驗方法 現行
作者：百檢網 時間：2021-05-26
中文標準名稱：集成電路 焊柱陣列試驗方法
英文標準名稱：Integrated circuits—Test methods for column grid array
標準狀態：現行,發布于2018-06-07; 實施于2019-01-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2018-06-07
實施日期：2019-01-01
中國標準分類號：31.200
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
執行單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：中國電子科技集團公司第五十八研究所;中國電子技術標準化研究院
相近標準：集成電路 焊柱陣列試驗方法; 20154245-T-339 集成電路 焊柱陣列試驗方法; GB/T 35005-2018 集成電路倒裝焊試驗方法; 集成電路 倒裝焊試驗方法; 20154249-T-339 集成電路倒裝焊試驗方法; SJ/T 11512-2015 集成電路用 電子漿料性能試驗方法; SJ/T 10607-1994 半導體集成電路門陣列設計總則; GB/T 12842-1991 膜集成電路和混合膜集成電路術語; GB/T 8976-1996 膜集成電路和混合膜集成電路總規范; GB/T 9178-1988 集成電路術語
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