標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 35006-2018
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測試方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2018-03-15; 實(shí)施于2018-08-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2018-03-15
實(shí)施日期：2018-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31.200
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31.200
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：深圳市國微電子有限公司;工業(yè)和信息化部電子第五研究所;中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所;成都振芯科技股份有限公司
相近標(biāo)準(zhǔn)：20154235-T-339 半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測試方法; 半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測試方法; SJ/T 10804-2000 半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理; 20192062-T-339 半導(dǎo)體集成電路 模擬數(shù)字（AD）轉(zhuǎn)換器; 半導(dǎo)體集成電路 模擬數(shù)字（AD）轉(zhuǎn)換器; 20192064-T-339 半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測試方法; 半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測試方法; 20192061-T-339 半導(dǎo)體集成電路 數(shù)字模擬（DA）轉(zhuǎn)換器; 半導(dǎo)體集成電路 數(shù)字模擬（DA）轉(zhuǎn)換器; GB/T 14028-2018 半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)測試方法