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GB/T 14028-2018 半導體集成電路模擬開關測試方法現行

作者：百檢網時間：2021-05-26

標準號：GB/T 14028-2018
中文標準名稱：半導體集成電路模擬開關測試方法
英文標準名稱：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
標準狀態：現行,發布于2018-03-15; 實施于2018-08-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2018-03-15
實施日期：2018-08-01
中國標準分類號：31.200
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
執行單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研究所;西北工業大學;圣邦微電子股份有限公司
全部替代標準：GB/T 14028-1992
相近標準：半導體集成電路模擬開關測試方法; 20154227-T-339 半導體集成電路模擬開關測試方法; GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理; 20192064-T-339 半導體集成電路霍爾電路測試方法; 半導體集成電路霍爾電路測試方法; 20182282-T-339 半導體集成電路 AC/DC測試方法; 半導體集成電路 AC/DC測試方法; 20192068-T-339 半導體集成電路驅動器測試方法; 半導體集成電路驅動器測試方法; 半導體集成電路 DDR3測試方法

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