標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32998-2016
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報(bào)告的規(guī)范要求
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2016-10-13; 實(shí)施于2017-09-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2016-10-13
實(shí)施日期：2017-09-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：71.040.40
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：71.040.40
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理學(xué)院
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 29081:2010。
采標(biāo)中文名稱:表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報(bào)告的規(guī)范要求。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20131698-T-469 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報(bào)告的規(guī)范要求; GB/T 25185-2010 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 - 荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告; 20071057-T-469 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 - 荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告; GB/T 32565-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求; 20131699-T-469 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求; GB/Z 32494-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析; 20110881-T-469 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析; 20201568-T-469 表面化學(xué)分析—電子能譜—X射線光電子能譜峰擬合的*低報(bào)告要求; 表面化學(xué)分析—電子能譜—X射線光電子能譜峰擬合的*低報(bào)告要求; GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告