標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32055-2015
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Methods for elemental-mapping analysis using wavelengthdispersive spectroscopy
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2015-10-09; 實(shí)施于2016-09-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2015-10-09
實(shí)施日期：2016-09-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：71.040.50
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：71.040.50
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所;中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 11938:2012。
采標(biāo)中文名稱:微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20131703-T-469 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析; GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則; 20067067-T-469 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則; GB/T 30705-2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則; 20121406-T-469 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則; GB/T 28634-2012 微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析; 20100322-T-469 微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析; 20204064-T-469 微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術(shù)語(yǔ); 微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術(shù)語(yǔ); 20000309-T-469 微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術(shù)語(yǔ)