標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5594.7-2015
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第7部分：透液性測(cè)定方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 7: Test method for liquid permeability
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2015-05-15; 實(shí)施于2016-01-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2015-05-15
實(shí)施日期：2016-01-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31-030
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31-030
歸口單位：工業(yè)和信息化部（電子）
執(zhí)行單位：工業(yè)和信息化部（電子）
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十二研究所;唐山海港華泰功能陶瓷材料有限公司
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5594.7-1985
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5594.7-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 透液性測(cè)定方法; GB/T 5594.1-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 氣密性測(cè)試方法; GB/T 5594.8-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定; GB/T 5593-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料; GB/T 5593-1996 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料; 20061562-T-339 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料; GB/T 5594.6-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法; 20061563-T-339 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第7部分：透液性測(cè)定方法; GB/T 5594.5-1985 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 體積電阻率測(cè)試方法; GB/T 5594.8-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第8部分：顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定方法