標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 31472-2015
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：X光電子能譜中荷電控制和荷電基準(zhǔn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)指南
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Standard guide to charge control and charge referencing techniques in X-ray photoelectron spectroscopy
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2015-05-15; 實施于2016-01-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2015-05-15
實施日期：2016-01-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：17.220.20
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：17.220.20
歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心;蘇州晶瑞化學(xué)有限公司;中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院;天津中環(huán)**材料技術(shù)有限公司
相近標(biāo)準(zhǔn)：20081115-T-469 X光電子能譜中荷電控制和荷電基準(zhǔn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)指南; GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀檢定方法; 20075691-T-469 X射線光電子能譜儀檢定方法; 20201567-T-469 表面化學(xué)分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南; 表面化學(xué)分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南; GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南; 20121403-T-469 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南; GB/T 19500-2004 X-射線光電子能譜分析方法通則; 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能的評估方法; SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法