標準號：GB/T 30860-2014
中文標準名稱：太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法
英文標準名稱：Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
標準狀態：現行,發布于2014-07-24; 實施于2015-04-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2014-07-24
實施日期：2015-04-01
中國標準分類號：77.040
國際標準分類號：77.040
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
執行單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：中國有色金屬工業標準計量質量研究所;江蘇協鑫硅材料科技發展有限公司;特變電工新疆新能源股份有限公司;連云港國家硅材料深加工產品質量監督檢驗中心;瑟米萊伯貿易（上海）有限公司;有研半導體材料股份有限公司;洛陽鴻泰半導體有限公司
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