標準號：GB/T 18735-2014
中文標準名稱：微束分析 分析電鏡（ＡＥＭ／ＥＤＳ）納米薄標樣通用規范
英文標準名稱：Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS)
標準狀態：現行,發布于2014-07-24; 實施于2015-03-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2014-07-24
實施日期：2015-03-01
中國標準分類號：71.040.50
國際標準分類號：71.040.50
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：武漢理工大學
全部替代標準：GB/T 18735-2002
相近標準：GB/T 18735-2002 分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標樣通用規范; 20111323-T-469 微束分析 分析電鏡（ＡＥＭ／ＥＤＳ）納米薄標樣通用規范; 20030760-T-469 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則; GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則; 納米技術 石墨烯比表面積測量方法—固體標樣參比法; GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣通用技術條件; DB43/T 1810-2020 烤煙實物標樣制作規程; GB/T 27788-2011 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則; GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則; 20190855-T-469 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則