標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 30703-2014
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Microbeam analysis―Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2014-03-27; 實(shí)施于2014-12-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2014-03-27
實(shí)施日期：2014-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：71.040.50
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：71.040.50
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén)：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計(jì)研究院;中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所;寶鋼集團(tuán)中央研究院
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 24173:2009。
采標(biāo)中文名稱:微束分析 電子背散射衍射取向測(cè)定方法導(dǎo)則。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20110888-T-469 微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則; GB/T 19501-2004 電子背散射衍射分析方法通則; GB/T 19501-2013 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則; 20111322-T-469 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則; GB/T 34172-2017 微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法; 20153708-T-469 微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的相分析方法; 微束分析 電子背散射衍射 金屬及合金的物相分析方法; GB/T 38532-2020 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定; 20173837-T-469 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定; 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定