標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 28892-2012
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy -Description of selected instrumental performance parameters
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2012-11-05; 實施于2013-06-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2012-11-05
實施日期：2013-06-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：71.040.40
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：71.040.40
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位：廈門愛勞德光電有限公司;廈門大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO國際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 15470:2004。
采標(biāo)中文名稱:表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20075693-T-469 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述; GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 - 選擇儀器性能參數(shù)的表述; 20075694-T-469 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 - 選擇儀器性能參數(shù)的表述; GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南; 20121403-T-469 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南; GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報告; 20151802-T-469 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報告; 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報告; 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能的評估方法; GB/Z 32490-2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序