標準號：GB/T 25185-2010
中文標準名稱：表面化學分析 X射線光電子能譜 - 荷電控制和荷電校正方法的報告
英文標準名稱：Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
標準狀態：現行,發布于2010-09-26; 實施于2011-08-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2010-09-26
實施日期：2011-08-01
中國標準分類號：71.040.40
國際標準分類號：71.040.40
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：北京師范大學分析測試中心
采標情況：本標準等同采用ISO國際標準：ISO 19318:2004。
采標中文名稱:表面化學 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告。
相近標準：20071057-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜 - 荷電控制和荷電校正方法的報告; GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南; 20121403-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南; GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告; 20151802-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告; 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告; 20201568-T-469 表面化學分析—電子能譜—X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求; 表面化學分析—電子能譜—X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求; 表面化學分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能的評估方法; GB/Z 32490-2016 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序