標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 23729-2009
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：閃爍探測器用光電二*管 試驗方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Photodiodes for scintillation detectors - Test procedures
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2009-05-06; 實施于2009-12-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2009-05-06
實施日期：2009-12-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：27.120.01
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：27.120.01
歸口單位：全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所;北京核儀器廠;中國原子能科學(xué)研究院
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62088:2001。
采標(biāo)中文名稱:核儀器 閃爍探測器用光電二*管 試驗方法。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20074912-T-307 閃爍探測器用光電二*管 試驗方法; SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光電二*管測試方法; YD/T 0835-1996 雪崩光電二*管檢測方法; SJ/T 2216-2015 硅光電二*管技術(shù)規(guī)范; GB/T 24365-2009 通信用光電探測器組件測試方法; 20068462-T-339 通信用光電探測器組件測試方法; SJ/T 2214-2015 半導(dǎo)體光電二*管和光電晶體管測試方法; GB/T 24366-2009 通信用光電探測器組件技術(shù)要求; 20068483-T-339 通信用光電探測器組件技術(shù)要求; 通信用光電探測器組件技術(shù)要求