標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.1-2008
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A： 低溫
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing - Part 2: Test methods - Tests A: Cold
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2008-12-30; 實施于2009-10-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2008-12-30
實施日期：2009-10-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：中國電器工業(yè)協(xié)會
起草單位：廣州電器科學(xué)研究院
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2001
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1:2007。
采標(biāo)中文名稱:環(huán)境試驗 第2-1部分：試驗方法　試驗A：低溫。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法; 20071254-T-469 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A： 低溫; GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫; GB/T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則; GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法; GB/T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則; 20010975-T-604 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則; GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee:彈跳試驗方法; GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法; GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 R:水試驗方法