標準號：GB/T 22586-2008
中文標準名稱：高溫超導薄膜微波表面電阻測試
英文標準名稱：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
標準狀態：被代替,發布于2008-12-15; 實施于2009-05-01; 被代替于2018-10-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2008-12-15
實施日期：2009-05-01
中國標準分類號：77.040.99
國際標準分類號：77.040.99
歸口單位：全國超導標準化技術委員會
執行單位：全國超導標準化技術委員會
主管部門：中國科學院
起草單位：電子科技大學;南京大學等;清華大學
被以下標準代替：被GB/T22586-2018GB/T22586-2018全部代替
采標情況：本標準等同采用IEC國際標準：IEC 61788-7:2006。
采標中文名稱:電子性能測量 微波頻率下超導體的表面電阻。
相近標準：20032460-T-491 高溫超導薄膜微波表面電阻測試; DB34/T 2843-2017 高溫超導疊制造工藝及試驗方法; GB/T 22586-2018 電子學特性測量 超導體在微波頻率下的表面電阻; 20142502-T-491 電子學特性測量 超導體在微波頻率下的表面電阻; 20153870-T-491 電性能測試 微波頻率下超導體表面電阻隨功率的變化; 電性能測試 微波頻率下超導體表面電阻隨功率的變化; GB/T 30537-2014 超導電性 塊狀高溫超導體的測量 大晶粒氧化物超導體的俘獲磁通密度; 20100977-T-491 超導電性 塊狀高溫超導體的測量 大晶粒氧化物超導體的俘獲磁通密度; 20132582-T-491 電性能測試 微波頻率下超導薄膜的本征表面阻抗; 20191892-T-491 臨界電流測量 第二代高溫超導長帶臨界電流及其沿長度方向均勻性測量