標準號：GB/T 14849.4-2008
中文標準名稱：工業硅化學分析方法 第4部分：電感耦合等離子體原子發射光譜法測定元素含量
英文標準名稱：Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
標準狀態：被代替,發布于2008-06-09; 實施于2008-12-01; 被代替于2015-08-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2008-06-09
實施日期：2008-12-01
中國標準分類號：77.120.10
國際標準分類號：77.120.10
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
執行單位：全國有色金屬標準化技術委員會
主管部門：中國有色金屬工業協會
起草單位：中國鋁業股份有限公司鄭州研究院;中國有色金屬工業標準計量質量研究所等
被以下標準代替：被GB/T14849.4-2014GB/T14849.4-2014全部代替
相近標準：20073440-T-610 工業硅化學分析方法 第4部分：電感耦合等離子體原子發射光譜法測定元素含量; GB/T 14849.4-2014 工業硅化學分析方法 第4部分：雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; 20121954-T-610 工業硅化學分析方法 第4部分：雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; YS/T 1261-2018 鉿化學分析方法 雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; YS/T 666-2008 工業鎵化學分析方法 雜質元素的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; SJ/T 11698-2018 無鉛焊錫化學分析方法 電感耦合等離子體原子發射光譜法; YS/T 630-2016 氧化鋁化學分析方法 雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; GB/T 11067.4-2006 銀化學分析方法 銻量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; 20060817-T-610 鎢化學分析方法 鈣量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法; 20021920-T-610 銀化學分析方法 銻量的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法