GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則 現行
作者：百檢網 時間：2021-05-26
中文標準名稱：納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
英文標準名稱：General rules for nanometer-scale length measurement by SEM
標準狀態：現行,發布于2006-07-19; 實施于2007-02-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2006-07-19
實施日期：2007-02-01
中國標準分類號：17.040;37.020
國際標準分類號：17.040;37.020
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：中國科學院地質與地球物理研究所;中國科學院化學所;上海理工大學;同濟大學;中國地質科學院礦產資源研究所
相近標準：20030760-T-469 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則; 20062081-T-469 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則; GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則; GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法; GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法; GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法; 20111086-T-604 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法; SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法; DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法; GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則
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