標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.35-2005
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing for electric and electronic products Part 2:Tests Tests Z/Afc:Combined cold/vibration(sinusoidal)tests for both heat-dissipating and non-heat-dissipating specimens
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于2005-08-26; 實施于2006-04-01; 被代替于2020-01-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2005-08-26
實施日期：2006-04-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：中國電器工業(yè)協(xié)會
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.35-1986
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T2423.35-2019GB/T2423.35-2019全部代替
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-50:1983。
采標(biāo)中文名稱:。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法; 20010973-T-604 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法; GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法; 20010974-T-604 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法; GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法; GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗; GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則; GB/T 2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度(低溫、高溫)和振動 (正弦) 綜合試驗導(dǎo)則; 20060681-T-604 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合; GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合