標準號：GB/T 15651.3-2003
中文標準名稱：半導體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 測試方法
英文標準名稱：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
標準狀態：現行,發布于2003-11-24; 實施于2004-08-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2003-11-24
實施日期：2004-08-01
中國標準分類號：31.260
國際標準分類號：31.260
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
執行單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導體廠
采標情況：本標準等同采用IEC國際標準：IEC 60747-5-3:1997。
采標中文名稱:。
相近標準：GB/T 15651-1995 半導體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件; GB/T 15651.2-2003 半導體分立器件和集成電路 第5-2部分:光電子器件 基本額定值和特性; 20192064-T-339 半導體集成電路 霍爾電路測試方法; 半導體集成電路 霍爾電路測試方法; GB/T 14028-2018 半導體集成電路 模擬開關測試方法; 20182282-T-339 半導體集成電路 AC/DC測試方法; 半導體集成電路 AC/DC測試方法; 半導體集成電路 模擬開關測試方法; 20154227-T-339 半導體集成電路 模擬開關測試方法; GB/T 15651.4-2017 半導體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導體激光器