標準號：GB/T 27788-2011
中文標準名稱：微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
英文標準名稱：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
標準狀態：被代替,發布于2011-12-30; 實施于2012-08-01; 被代替于2021-04-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2011-12-30
實施日期：2012-08-01
中國標準分類號：37.020
國際標準分類號：37.020
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：中國地質科學院礦產資源研究所;上海第二軍醫大學;中國科學院上海硅酸鹽研究所
被以下標準代替：被GB/T27788-2020GB/T27788-2020全部代替
采標情況：本標準等同采用ISO國際標準：ISO 16700:2004。
采標中文名稱:微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則。
相近標準：GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則; 20190855-T-469 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則; 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則; 20075698-T-469 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則; DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法; DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法; GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法; GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法; 20111086-T-604 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法; GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術 用周期結構標準物質校準圖像放大倍率的方法