標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.50-1999
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：Environmental testing for electric and electronic products--Part 2:Test methods--Test Cy:Damp heat，steady state，accelerated test primarily intended
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于1999-10-10; 實(shí)施于2000-05-01; 被代替于2013-02-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1999-10-10
實(shí)施日期：2000-05-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：19.040
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：19.040
歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén)：中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：廣州電器科學(xué)研究所
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T2423.50-2012GB/T2423.50-2012全部代替
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-67:1996。
采標(biāo)中文名稱(chēng):。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn); 20101322-T-469 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn); GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法; 20060677-T-604 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn); GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn); GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱; 20032609-T-604 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品); GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱