標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17473.2-1998
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 細度測定
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于1998-08-19; 實施于1999-03-01; 被代替于2008-09-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1998-08-19
實施日期：1999-03-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：77.040.01
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：77.040.01
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會
起草單位：昆明貴金屬研究所
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T17473.2-2008GB/T17473.2-2008全部代替
相近標(biāo)準(zhǔn)：20064722-T-610 微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 細度測定; GB/T 17473.2-2008 微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 細度測定; GB/T 17473.3-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 方阻測定; GB/T 17473.5-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 粘度測定; GB/T 17473.1-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 固體含量測定; GB/T 17473.6-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 分辨率測定; GB/T 17473.4-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 附著力測定; 20062654-T-610 微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 方阻測定; 20062656-T-610 微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 粘度測定; GB/T 17473.5-2008 微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 粘度測定