標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.48-1997
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff:振動(dòng)----時(shí)間歷程法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：Environmental testing for electric and electronic products--Part 2:Test methods--Test Ff:Vibration--Time-history method
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于1997-09-01; 實(shí)施于1998-10-01; 被代替于2009-03-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1997-09-01
實(shí)施日期：1998-10-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：19.040
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：19.040
歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén)：中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：電子工業(yè)部第五研究所
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T2423.48-2008GB/T2423.48-2008全部代替
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-57:1989。
采標(biāo)中文名稱(chēng):。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20061714-T-604 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)-時(shí)間歷程法; GB/T 2423.48-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)-時(shí)間歷程法; GB/T 2423.48-2018 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff:振動(dòng) 時(shí)間歷程和正弦拍頻法; 20141918-T-469 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff:振動(dòng) 時(shí)間歷程和正弦拍頻法; GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法; 20064152-T-604 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦); GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦); GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法; GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe:振動(dòng)----正弦拍頻法; GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ee:彈跳試驗(yàn)方法