標準號：GB/T 1553-1997
中文標準名稱：硅和鍺體內少數載流子壽命測定光電導衰減法
英文標準名稱：Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
標準狀態：被代替,發布于1997-06-03; 實施于1997-12-01; 被代替于2010-06-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：1997-06-03
實施日期：1997-12-01
中國標準分類號：77.040.01
國際標準分類號：77.040.01
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
執行單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：峨嵋半導體材料廠
被以下標準代替：被GB/T1553-2009GB/T1553-2009全部代替
采標情況：本標準等效采用ITU國際標準：ASTM F28:1990。
采標中文名稱:。
相近標準：GB/T 1553-2009 硅和鍺體內少數載流子壽命測定光電導衰減法; 20063373-T-469 硅和鍺體內少數載流子壽命測定光電導衰減法; 20210889-T-469 硅和鍺體內少數載流子壽命的測定 光電導衰減法; 硅和鍺體內少數載流子壽命的測定 光電導衰減法; GB/T 26068-2018 硅片和硅錠載流子復合壽命的測試 非接觸微波反射光電導衰減法; 20151792-T-469 硅片和硅錠載流子復合壽命的測試 非接觸微波反射光電導衰減法; GB/T 26068-2010 硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法; 20081130-T-469 硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法; 硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法; DB65/T 3485-2013 太陽能級多晶硅塊少數載流子壽命測量方法