標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.5-1995
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing for electric and electronic products--Part 2:Test methods--Test Ea and guidance:Shock
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于1995-08-29; 實(shí)施于1996-08-01; 被代替于2019-12-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1995-08-29
實(shí)施日期：1996-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.040
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.040
歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：電子部五所
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB 2424.3-1981,GB 2423.5-1981
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T2423.5-2019GB/T2423.5-2019全部代替
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 68-2-27:1987。
采標(biāo)中文名稱:。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞; GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦); GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落; 20010200-T-339 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 環(huán)境測(cè)試 流體污染; GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度; GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射; GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品); 20032609-T-604 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則