標準號：GB/T 5201-1994
中文標準名稱：帶電粒子半導體探測器測試方法
英文標準名稱：Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
標準狀態：被代替,發布于1994-12-22; 實施于1995-10-01; 被代替于2012-11-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：1994-12-22
實施日期：1995-10-01
中國標準分類號：17.240
國際標準分類號：17.240
歸口單位：全國核儀器儀表標準化技術委員會
執行單位：全國核儀器儀表標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：北京核儀器廠
相近標準：GB/T 5201-2012 帶電粒子半導體探測器測量方法; 20101268-T-307 帶電粒子半導體探測器測量方法; 20030762-T-469 半導體探測器X射線能譜儀通則; GB/T 20726-2006 半導體探測器X射線能譜儀通則; GB/T 7167-1996 鍺γ射線探測器測試方法; 20060891-T-307 鍺γ射線探測器測試方法; GB/T 7167-2008 鍺γ射線探測器測試方法; GB/T 11685-2003 半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法; GB/T 13584-2011 紅外探測器參數測試方法; 20062035-T-339 紅外探測器參數測試方法