GB/T 14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理 現(xiàn)行
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-05-26
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于1992-12-17; 實(shí)施于1993-08-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1992-12-17
實(shí)施日期：1993-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：31.200
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：31.200
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén)：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：上海元件五廠
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