標準號：GB/T 14031-1992
中文標準名稱：半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理
英文標準名稱：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
標準狀態：現行,發布于1992-12-17; 實施于1993-08-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：1992-12-17
實施日期：1993-08-01
中國標準分類號：31.200
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
執行單位：全國半導體器件標準化技術委員會
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：上海元件五廠
相近標準：GB/T 14032-1992 半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理; GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理; SJ/T 10741-2000 半導體集成電路 CMOS電路測試方法的基本原理; GB/T 14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理; SJ/T 10250-1991 半導體集成電路CB565型模擬鎖相環詳細規范; GB/T 14029-1992 半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理; GB/T 15136-1994 半導體集成電路石英鐘表電路測試方法的基本原理; SJ/T 10805-2000 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理; GB/T 4377-1996 半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理; GB/T 6798-1996 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理