標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 16594-2008
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：General rules for measurement of length in micron scale by SEM
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2008-09-18; 實(shí)施于2009-05-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2008-09-18
實(shí)施日期：2009-05-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：71.040.99
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：71.040.99
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門(mén)：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位：上海理工大學(xué);同濟(jì)大學(xué);中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第725研究所;上海元寶能源技術(shù)有限公司;上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 16594-1996
相近標(biāo)準(zhǔn)：20062081-T-469 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則; GB/T 16594-1996 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法; 20030760-T-469 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則; GB/T 20307-2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則; GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法; GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法; 20111086-T-604 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法; SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法; DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評(píng)價(jià)方法; GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則