CNS 5066-1983 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法-總則
作者：百檢網 時間：2021-07-13
中文標準名稱：單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法-總則
英文標準名稱：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (General Rules
中國標準分類號：L4
國際標準分類號：31.080.0119
標準依據：臺標2017/02/18公告
適用范圍：本標準適用于集體電路以外的單件半導體裝置于使用，搬象或貯藏時所遭遇之各種條件下評估其性能的穩定性所設立之環境檢驗法及耐久性檢驗法。
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