CNS 5072-1988 單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法-氣密性試驗
作者：百檢網 時間：2021-07-13
中文標準名稱：單件半導體裝置之環境檢驗法及耐久性檢驗法-氣密性試驗
英文標準名稱：Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Sealing Test
中國標準分類號：L4
國際標準分類號：31.080.0119
標準依據：臺標2017/02/18公告
適用范圍：本標準規定單件半導體裝置之封口氣密性之試驗方法。1.1?定義?1.1.1?計算漏氣率：計算漏氣率系指放置在高壓邊為?1?氣壓（101325?Pa），低壓邊為?1.33322×102?Pa?以下之場合，乾燥空氣于?25℃?時每秒鐘的漏氣通過量。單位以?Pa?cm3∕s?表示。1.1.2?測定漏氣率：測定漏氣率系
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