標準號：GB/T 17626.20-2014
中文標準名稱：電磁兼容 試驗和測量技術 橫電磁波(TEM)波導中的發射和抗擾度試驗
英文標準名稱：Electromagnetic compatibility.Testing and measurement techniques.Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguide
標準類型：L06
發布日期：2014/12/22 12:00:00
實施日期：2015/6/1 12:00:00
中國標準分類號：L06
國際標準分類號：33.100.10;33.100.20
引用標準：GB/T 4365-2003;IEC 61000-2-11-1999;IEC 61000-4-23;IEC/TR 61000-4-32;IEC/TR 61000-5-3;GB/T 6113.101-2008;GB/T 6113.104-2008;GB/T 6113.203-2008;CISPR 16-2-3-2006;GB 9254-2008
適用范圍：GB/T 17626的本部分給出了利用各種TEM波導進行電子和電氣設備發射和抗擾度試驗的方法。TEM波導有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM室),還可以進一步分為單端口、雙端口和多端口波導。TEM波導的適用頻率范圍取決于具體的試驗需求和TEM波導的具體類型。本部分的目的是給出:——TEM波導的性能,包括典型的頻率范圍和對EUT尺寸的限制;——用于電磁兼容(EMC)試驗的TEM波導的確認方法;——EUT(即EUT殼體和連接電纜)的定義;——在TEM波導中進行輻射發射試驗的試驗布置、步驟和要求;——在TEM波導中進行輻射抗擾度試驗的試驗布置、步驟和要求。本部分的目的不是規定適用于任意特定產品或系統的試驗方法,而是為所有感興趣的產品委員會提供通用的基礎性參考。對于輻射發射試驗,產品委員會應參考國際無線電干擾特別委員會(CISPR)標準選擇發射限值和試驗方法。對于輻射抗擾度試驗,由產品委員會負責對其管轄范圍內的設備選擇合適的試驗方法和抗擾度限值。本部分描述的試驗方法獨立于GB/T 17626.3。