標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 29309-2012
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程.高加速壽命試驗導(dǎo)則
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Accelerated stress testing procedures for electric and electronic products.Guidance for highly accelerated life test
標(biāo)準(zhǔn)類型：L05;K04
發(fā)布日期：2012/12/31 12:00:00
實施日期：2013/6/1 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：L05;K04
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2421.1-2008;GB/T 2422-1995;GB/T 2423.1-2008;GB/T 2423.2-2008;GB/T 2423.22-2002;GB/T 2423.43-2008;GB/T 2423.56-2006;GB/T 2424.5-2006;GB/T 2424.13-2002;GB/T 11804-2005;JJF 1101-2003
適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Test,HALT）的一般要求、試驗準(zhǔn)備和試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高加速壽命試驗，施加的試驗應(yīng)力包括高溫步進(jìn)、低溫步進(jìn)、快速溫度變化循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機(jī)振動等應(yīng)力。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印刷電路板組件等。對于大型整機(jī)，宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級別（如印制電路板組件、子模塊）上進(jìn)行試驗。本標(biāo)準(zhǔn)還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計和（或）試產(chǎn)階段，也可用于批量生產(chǎn)階段。