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GB/T 4937.1-2006 半導體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則

作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-13

標準號：GB/T 4937.1-2006
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第1部分:總則
英文標準名稱：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
標準類型：L40
發(fā)布日期：2006/8/23 12:00:00
實施日期：2007/2/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.1
引用標準：IEC 60050;IEC 60747;IEC 60748
適用范圍：本部分適用于半導體器件（分立器件和集成電路）并為GB/T 4937系列的其他部分建立通用準則。當本部分與相應的詳細規(guī)范有矛盾時，以詳細規(guī)范為準。

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